产品中心 Products
联系方式 Contact
产品描述
工业CT扫描工作站
XT H 225系列
在零件内部组装的信息获取与测定，质量管理，故障分析，材料研究等应用中不可缺少。装备了225kV微焦点X射线源的XTH225系列，带给我们高清晰度的X光图像以及CT图像。
主要特点
高速旋转靶（选配件）可以使X射线束增幅达到五倍，实现在同一扫描时间内CT数据精度更高，CT数据获取也更加快速。
• 225kV的强力射线管（选配旋转靶）
• 实时的X射线可视化，迅速的CT 数据重构
• 完全可编程化的5轴操作样品台
• 可自定义宏让检测工作流程自动化
• 针对多用途设计的3种不同大小的铅房防护外壳（标准，ST，LC）
• 实时的X射线可视化，迅速的CT 数据重构
• 完全可编程化的5轴操作样品台
• 可自定义宏让检测工作流程自动化
• 针对多用途设计的3种不同大小的铅房防护外壳（标准，ST，LC）
引进功能
• 将灵活性整合到一个系统里:X射线快速可视化检测，CT重构精密解析
• 快速获取高品质图像
• 人机交互式操作杆导航界面使用快速直观
• 高清晰度数字图像与图像处理
• 不需要特别外加防护的完备安全系统
• 通用于业界标准的后处理应用格式
• 快速获取高品质图像
• 人机交互式操作杆导航界面使用快速直观
• 高清晰度数字图像与图像处理
• 不需要特别外加防护的完备安全系统
• 通用于业界标准的后处理应用格式
用途
• 精密的塑料零件，小型铸件，复杂的机械装置、CAD实物比对等等的评价与测定
• 详细的故障原因分析
• 材料学研究与生物学的构造分析
• 模型的数据转换与保存
• 组装装配的问题分析
• 详细的故障原因分析
• 材料学研究与生物学的构造分析
• 模型的数据转换与保存
• 组装装配的问题分析
XT H 225 X射线和CT检测系统，可供工业应用工业零部件内外全检
外部零件和总成特征的详细测量对于质量控制、失效分析和材料研究而言通常是非常重要的。XT H系统可提供X射线源，大检测体积和较高的X射线和CT成像分辨率。
XT H 系统可采用225kV电源，可选用旋转目标，适合于各种应用，包括小铸件检测、塑料件及材料研究。
XT H 系统可采用225kV电源，可选用旋转目标，适合于各种应用，包括小铸件检测、塑料件及材料研究。
系统技术指标
5µm 焦斑反射目标X射线源，25～225 kV，0～2000 µA（非连续）60或225W。
10kg 容量五轴可编程操纵器。
扫描范围：250 x 330mm。
几何放大倍数：160x.
系统放大倍数：400x。
特征识别分辨率：最低1µm。
外机柜尺寸：2030mm L，925mm D，2000mm H。
全套系统控制和图像处理软件。
10kg 容量五轴可编程操纵器。
扫描范围：250 x 330mm。
几何放大倍数：160x.
系统放大倍数：400x。
特征识别分辨率：最低1µm。
外机柜尺寸：2030mm L，925mm D，2000mm H。
全套系统控制和图像处理软件。
产品询价
